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zeta電位儀樣品制備的濃度問(wèn)題分析

更新時(shí)間:2018-07-27       點(diǎn)擊次數(shù):17066
   zeta電位儀樣品制備的濃度問(wèn)題分析
  zeta電位儀樣品制備有2個(gè)關(guān)鍵問(wèn)題:
  1.合適的濃度;
  2.保證檢測(cè)體系和實(shí)際體系的一致性,包括:pH、系統(tǒng)的總離子濃度、存在的任何表面活性劑或聚合物的濃度。
  我們今天來(lái)看看合適的濃度因素,它包括低濃度和高濃度。
  低濃度:
  在zeta電位儀測(cè)試過(guò)程中所需的小光強(qiáng)為20 kcps。因此低濃度取決于相對(duì)折光指數(shù)差(粒子和溶劑間的折光指數(shù)差值)和粒子尺寸。
  粒子的尺寸越大所產(chǎn)生的散射光越強(qiáng),所需的濃度也就越低。對(duì)于折光指數(shù)差較大的樣品,譬如TiO2粒子的水性懸浮液,TiO2的折光指數(shù)為2.5,與水的折光指數(shù)差較大,有較強(qiáng)的散射能力。因此對(duì)于300 nm的TiO2粒子,小濃度可以為10-6 w/v%。對(duì)于折光指數(shù)差很小的樣品,比如蛋白質(zhì)溶液,低濃度會(huì)高很多。通常低濃度需要在0.1-1 w/v%之間才能有足夠的散射光強(qiáng)進(jìn)行Zeta電位測(cè)量。終,對(duì)于特定樣品進(jìn)行一個(gè)成功的Zeta電位測(cè)量的低濃度,應(yīng)該由試驗(yàn)實(shí)際測(cè)量得到。
  高濃度:
  zeta電位儀測(cè)量過(guò)程中的散射光在向前的角度收集,因此激光應(yīng)該保證能夠穿過(guò)樣品。如果樣品的濃度過(guò)高,則激光將會(huì)由于樣品的散射衰減很多,相應(yīng)的降低檢測(cè)到的散射光光強(qiáng)。為了補(bǔ)償此影響,衰減器會(huì)讓更過(guò)的激光通過(guò)。終,樣品的濃度范圍必須由測(cè)定不同濃度下的Zeta電位的試驗(yàn)決定,由此來(lái)得到濃度對(duì)Zeta電位的影響。
  為了確保數(shù)據(jù)的可用性,一定要盡量保證檢測(cè)體系和實(shí)際應(yīng)用體系的統(tǒng)一性。并通過(guò)測(cè)試不同條件下Zeta電位的變化,直到Zeta電位不明顯受參數(shù)變化的影響時(shí),這個(gè)參數(shù)所在區(qū)間為可用。
  為了保證數(shù)據(jù)可靠性,每個(gè)樣品需要重復(fù)檢測(cè)三次,取平均值。