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馬爾文帕納科納這款納米粒度電位儀優(yōu)點(diǎn)真不少

更新時(shí)間:2022-06-13       點(diǎn)擊次數(shù):1382
納米顆粒的粒度及其分布是表征其性能的主要參數(shù),因此對(duì)納米顆粒粒度的準(zhǔn)確測(cè)量具有重要意義。

馬爾文帕納科納米粒度電位儀ZetasizerUltra是用于測(cè)量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統(tǒng),在結(jié)合了ZetasizerPro和Lab所有特性和優(yōu)點(diǎn)的基礎(chǔ)上,增加了多角度動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)(MADLS®),是Zetasizer Advance系列中更智能和靈活的儀器。

ZetasizerUltra融合了功能強(qiáng)大的DLS與ELS系統(tǒng),它采用了非侵入背散射(NIBS)和*的多角動(dòng)態(tài)光散射(MADLS)技術(shù)來(lái)測(cè)量顆粒與分子大小。NIBS的多用性和靈敏度可適用廣泛的濃度范圍,而MADLS則能讓您在這些關(guān)鍵測(cè)量當(dāng)中更精細(xì)地了解樣品粒度分布。

優(yōu)點(diǎn)包括:
1、用于高分辨率粒度測(cè)量且與角度無(wú)關(guān)的多角動(dòng)態(tài)光散射法(MADLS)可以更深入地展現(xiàn)您的樣品粒度分布
2、動(dòng)態(tài)光散射(DLS)用于測(cè)量從0.3nm到15µm的顆粒和分子的粒度及粒度分布(使用低容量可拋棄粒度樣品池和擴(kuò)展粒度分析可以測(cè)試粒度大于10µm;取決于樣品和樣品制備)
3、電泳光散射(ELS)用于測(cè)量顆粒和分子的Zeta電位,以顯示樣品穩(wěn)定性和/或團(tuán)聚傾向性
4、非侵入背散射(NIBS)技術(shù)顯著擴(kuò)大了動(dòng)態(tài)范圍,即使是處理非常濃縮的樣品,也能實(shí)現(xiàn)高靈敏度
5、簡(jiǎn)單的每峰值濃度/滴度測(cè)量(僅限紅標(biāo)RedLabel版本)
6、可拋棄型毛細(xì)管粒度測(cè)量樣品池提供了無(wú)損、低容量(*3µL)分析,并且粒度上限范圍可達(dá)到15μm
7、具有恒流模式的M3-PALS可以在高導(dǎo)電介質(zhì)中測(cè)量Zeta電位和電泳遷移率
8、以樣品為中心的ZSXplorer軟件可以實(shí)現(xiàn)靈活的指導(dǎo)式使用,并可輕松構(gòu)建復(fù)雜的模型
9、“自適應(yīng)相關(guān)”算法能生成可靠且可重復(fù)的數(shù)據(jù),同時(shí)計(jì)算速度超過(guò)以往的兩倍,可在減少樣品制備的情況下更快速地執(zhí)行更多可重現(xiàn)的粒度測(cè)量,實(shí)現(xiàn)更具代表性的樣品視圖
10、通過(guò)深度學(xué)習(xí)實(shí)現(xiàn)的數(shù)據(jù)質(zhì)量系統(tǒng)可以評(píng)估粒度數(shù)據(jù)質(zhì)量問(wèn)題,并針對(duì)如何改進(jìn)結(jié)果提供明確的建議
11、使用靜態(tài)光散射(90°)測(cè)量分子量
12、軟件符合21CFRPart11法規(guī)
13、濾光片轉(zhuǎn)盤(pán)提供熒光濾光片以及垂直和水平偏振片,以實(shí)現(xiàn)分析靈活性
14、可選的MPT-3自動(dòng)滴定儀可幫助研究pH值變化的影響
15、一系列可拋棄和可重復(fù)使用的樣品池可優(yōu)化不同樣品體積和濃度的測(cè)量,其中包括新的低容量可拋棄粒度測(cè)量池套件,由于它可以抑制對(duì)流,所以既能進(jìn)行樣品量小到3µL的粒度測(cè)量,也擴(kuò)展了DLS測(cè)量的粒度上限范圍。