納米粒度電位儀是一種用于測量納米及亞微米級顆粒粒徑、Zeta電位等參數(shù)的分析儀器，在化學、材料科學、生物醫(yī)藥等領域應用廣泛。該儀器主要基于動態(tài)光散射（DLS）、電泳光散射（ELS）和靜態(tài)光散射（SLS）技術工作。動態(tài)光散射通過檢測顆粒布朗運動速度計算粒徑分布；電泳光散射測量顆粒在外加電場中的遷移率，轉化為Zeta電位值；靜態(tài)光散射則利用散射光強直接測定高分子物質的絕對分子量及第二維利系數(shù)。其粒徑檢測范圍通常覆蓋0.3 nm至10μm，支持低至12μL的微量樣品檢測，并具備自動化程序控溫功能。

　　納米粒度電位儀的常見問題及解決方法：

　　1、測量問題

　　測量不穩(wěn)定或無法測量

　　原因：樣品濃度過高或過低、設置不正確、樣品準備不充分等。

　　解決方法：確保樣品濃度在推薦范圍內(nèi)，可通過稀釋或濃縮調整；檢查測量模式、電極間距等設置是否符合樣品要求；保證樣品充分分散，避免顆粒團聚。

　　粒徑分布偏大

　　原因：樣品團聚，分散不好。

　　解決方法：延長超聲時間或加入合適分散劑幫助分散。

　　Zeta電位與文獻差別大

　　原因：測試分散劑種類、pH等與文獻不一致。

　　解決方法：查看并調整測試條件，使其與文獻保持一致。

　　2、儀器部件問題

　　電極污染或損壞

　　原因：電極污染或損壞會導致測量誤差或不穩(wěn)定。

　　解決方法：定期清潔電極，使用適當清潔劑并按制造商說明操作；若電極損壞，及時更換新電極。

　　溫度控制問題

　　原因：Zeta電位測量對溫度敏感，溫度不穩(wěn)定會影響結果。

　　解決方法：確保環(huán)境溫度穩(wěn)定，使用恒溫設備控制樣品溫度，或操作前讓儀器和樣品達到平衡溫度。

　　3、軟件及電源問題

　　軟件問題

　　原因：軟件故障或設置錯誤導致測量結果不準確。

　　解決方法：更新或重新安裝控制軟件，檢查設置是否正確，確保軟件版本與儀器硬件兼容。若問題持續(xù)，聯(lián)系技術支持。

　　電源問題

　　原因：電源不穩(wěn)定或連接不良使儀器無法正常工作。

　　解決方法：檢查電源線和插頭，確保連接牢固，使用穩(wěn)定電源。若電源問題無法解決，可考慮更換電源線或使用不同電源插座。

　　4、其他問題

　　樣品不均勻

　　原因：樣品中顆粒分布不均勻會導致測量誤差。

　　解決方法：測量前充分攪拌樣品，確保顆粒分散均勻，也可使用超聲波處理改善樣品均勻性。

　　設備卡住或圖像模糊（針對部分帶有成像功能的納米粒度電位儀）

　　原因：可能是設備運行故障或鏡頭污染等。

　　解決方法：嘗試重新啟動設備或重新插拔連接線；清潔鏡頭。