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單波長色散X射線熒光光譜儀原理及優(yōu)缺點概述

更新時間:2015-05-12       點擊次數(shù):3376

一、單波長色散X射線熒光光譜儀原理:

    用全聚焦型雙曲面彎晶將微焦斑X線管(可看作點光源)發(fā)射的原級X射線的某個波長(通常選取出射譜中的特征X射線)的X射線單色化并聚焦于樣品測試表面,激發(fā)樣品中元素的熒光X射線。由于入射到樣品的X射線具有很好的單色性,幾乎不存在連續(xù)譜,因此從樣品出射的X射線除了樣品中的元素被激發(fā)產(chǎn)生的熒光X射線(線光譜)和單色入射線的瑞利散射和康普頓散射以外,幾乎不存在連續(xù)散射背景。因此待測元素特征線具有極低的背景。樣品上出射的X射線(可視作點光源)中待測元素的特征熒光X譜線經(jīng)全聚焦型雙曲面彎晶衍射,得到具有極低背景的特征X射線,并聚焦到探測器上進行探測,由特征X射線強度進行元素含量的定量分析。

二、單波長色散X射線熒光光譜儀優(yōu)點:

    由于采用單波長激發(fā)并按波長色散原理進行待測元素的特征熒光X射線檢測,極低的背景帶來極低的檢出限,將X射線熒光光譜分析的領(lǐng)域由微量(ppm級)延伸到痕量(亞ppm到ppb級)。結(jié)合X射線熒光光譜分析的快速、無損的優(yōu)點,單波長激發(fā)波長色散X射線熒光光譜儀在諸如食品安全、水質(zhì)監(jiān)測等常規(guī)XRF無法涉足的領(lǐng)域必將得到廣泛的應用。

三、單波長色散X射線熒光光譜儀缺點:

    全聚焦型雙曲面彎晶制作工藝極其復雜,成品率低,成本較高。