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X射線衍射在金屬學(xué)中的應(yīng)用

更新時間:2016-04-06       點擊次數(shù):2292
      X射線衍射現(xiàn)象發(fā)現(xiàn)后,很快被用于研究金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu),已經(jīng)成為研究晶體物質(zhì)和某些非晶態(tài)物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的有效方法。
 
(1)物相分析是X射線衍射在金屬中用得zui多的方面,又分為定性分析和定量分析。定性分析是把對待測材料測得的點陣平面間距及衍射強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)物相的衍射數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,以確定材料中存在的物相;定量分析則根據(jù)衍射花樣的強(qiáng)度,確定待測材料中各相的比例含量。
 
(2)精密測定點陣參數(shù)常用于相圖的固態(tài)溶解度曲線的繪制。溶解度的變化往往引起點陣常數(shù)的變化;當(dāng)達(dá)到溶解限后,溶質(zhì)的繼續(xù)增加引起新相的析出,不再引起點陣常數(shù)的變化。這個轉(zhuǎn)折點即為溶解限。另外點陣常數(shù)的精密測定可獲得單位晶胞原子數(shù),從而可確定固溶體類型;還可以計算出密度、膨脹系數(shù)等有用的物理常數(shù)。
 
(3)取向分析包括測定單晶取向和多晶的結(jié)構(gòu)(如擇優(yōu)取向)。測定硅鋼片的取向就是一例。另外,為研究金屬的范性形變過程,如孿生、滑移、滑移面的轉(zhuǎn)動等,也與取向的測定有關(guān)。
 
(4)晶粒(嵌鑲塊)大小和微觀應(yīng)力的測定由衍射花樣的形狀和強(qiáng)度可計算晶粒和微應(yīng)力的大小。在形變和熱處理過程中這兩者有明顯變化,它直接影響材料的性能。
 
(5)宏觀應(yīng)力的測定宏觀殘留應(yīng)力的方向和大小,直接影響機(jī)器零件的使用壽命。利用測定點陣平面在不同方向上的間距的改變,可計算出殘留應(yīng)力的大小和方向。
 
(6)對晶體結(jié)構(gòu)不完整性的研究包括對層錯、位錯、原子靜態(tài)或動態(tài)地偏離平衡位置,短程有序,原子偏聚等方面的研究(見晶體缺陷)。
 
(7)合金相變包括脫溶、有序無序轉(zhuǎn)變、母相新相的晶體學(xué)關(guān)系,等等。
 
(8)結(jié)構(gòu)分析對新發(fā)現(xiàn)的合金相進(jìn)行測定,確定點陣類型、點陣參數(shù)、對稱性、原子位置等晶體學(xué)數(shù)據(jù)。
 
(9)液態(tài)金屬和非晶態(tài)金屬研究非晶態(tài)金屬和液態(tài)金屬結(jié)構(gòu),如測定近程序參量、配位數(shù)等。
 
(10)特殊狀態(tài)下的分析在高溫、低溫和瞬時的動態(tài)分析。