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是什么因素影響了PH對Zeta電位儀測量

更新時(shí)間:2020-09-08      點(diǎn)擊次數(shù):4024
       Zeta電位儀可用于測定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位),也可用于測量乳狀液液滴的界面電性,也可用于測定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過程的機(jī)理。通過測定粉體的Zeta電位儀,從pH-Zeta電位儀關(guān)系圖上求出等電點(diǎn),是認(rèn)識(shí)粉體表面電性的重要方法,在粉體表面處理中也是重要的手段。與國內(nèi)外其它同類型儀器相比,它具有顯著的*性??蓮V泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè),也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一。
  pH是對Zeta電位儀影響大的因素,當(dāng)談?wù)揨eta電位儀時(shí),不指明pH是沒有太大意義的。水溶液中,如果一種納米粒子的Zeta電位儀為負(fù)值,適當(dāng)加入堿,顆粒會(huì)得到更多的負(fù)電,Zeta電位儀jue對值變大;適當(dāng)加入酸,顆粒的電荷將會(huì)被中和,Zeta電位儀jue對值變小。
  這是因?yàn)椋芤褐袑τ诒砻鎺ж?fù)電荷的納米顆粒,擴(kuò)散層反離子為正,當(dāng)加入H+時(shí),體相溶液中的正離子濃度變大,相互排斥,而將更多反離子擠進(jìn)滑動(dòng)面,中和掉更多的負(fù)電荷,使得Zeta電位儀jue對值變小,導(dǎo)致納米顆粒的帶電量變小少排斥力減弱,更容易團(tuán)聚。
  一般來說,Zeta電位儀對pH作圖時(shí),中間一定有一點(diǎn)會(huì)通過零Zeta電位儀,這一點(diǎn)稱為等電點(diǎn)。膠體在等電點(diǎn)是不穩(wěn)定的,容易發(fā)生團(tuán)聚。當(dāng)納米溶膠的Zeta電位儀降低到臨界Zeta電位儀時(shí),就會(huì)發(fā)生團(tuán)聚,不過,這個(gè)臨界值并不一定為0。
  對于表面帶負(fù)電荷的納米顆粒,當(dāng)加入大量NaCl、CaCl2等電解質(zhì)時(shí),電解質(zhì)中與反離子相同的電荷的排斥作用把更多反離子壓入滑動(dòng)面,導(dǎo)致納米顆粒的帶電量變小,Zeta電位儀jue對值變小,更容易導(dǎo)致團(tuán)聚。高價(jià)離子(Al3+)將會(huì)比單價(jià)離子(Na+)壓入更多的反離子,導(dǎo)致納米顆粒表面電荷更少。