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馬爾文帕納科晶圓分析儀

簡要描述:馬爾文帕納科晶圓分析儀2830 ZT提供了用于測量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 專門針對半導(dǎo)體和數(shù)據(jù)存儲行業(yè)而設(shè)計(jì),該儀器可為多種晶片(厚達(dá) 300 mm)測定層結(jié)構(gòu)、厚度、摻雜度和表面均勻性。

  • 更新時(shí)間:2024-11-18
  • 產(chǎn)品型號:2830 ZT
  • 訪  問  量:122852

詳細(xì)介紹

馬爾文帕納科晶圓分析儀2830 ZT特點(diǎn):  

2830 ZT 波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 晶圓分析儀提供了用于測量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 晶圓分析儀專門針對半導(dǎo)體和數(shù)據(jù)存儲行業(yè)而設(shè)計(jì),該儀器可為多種晶片(厚達(dá) 300 mm)測定層結(jié)構(gòu)、厚度、摻雜度和表面均勻性。


持續(xù)的性能和速度

4 kW SST-mAX X 射線管配備了突破性的 ZETA 技術(shù),可以消除 X 射線管老化效應(yīng)。 這種“全新射線管"性能可以在 X 射線管整個(gè)壽命期間得到保持,同時(shí)高靈敏度與 ZETA 技術(shù)相結(jié)合,確保了在 X 射線管壽命期間可以一直提供快速的分析和簡短的測量時(shí)間。 ZETA 技術(shù)顯著減少了對于漂移校正和重新校準(zhǔn)的需求,從而提高了儀器的生產(chǎn)率和正常運(yùn)行時(shí)間。

正常運(yùn)行時(shí)間大大提升

傳統(tǒng) X 射線管會出現(xiàn)鎢燈絲揮發(fā),從而導(dǎo)致光管鈹窗內(nèi)部出現(xiàn)沉淀物污染鈹窗。 使用此類 X 射線管的儀器需要定期進(jìn)行漂移校正以補(bǔ)償下降的強(qiáng)度,尤其是對于輕元素而言。 

2830 ZT 采用 SST-mAX 射線管解決了這一漂移問題,從而大大提升了正常運(yùn)行時(shí)間并能夠隨著時(shí)間的推移維持儀器精度。

易于使用

2830 ZT 配置SuperQ 軟件,該軟件包含了 FP Multi - 一個(gè)專門針對多層分析開發(fā)的專用軟件包。 該軟件的用戶界面確保即使是沒有經(jīng)驗(yàn)的操作員也可以對多層進(jìn)行全自動的基本參數(shù)分析。
該儀器的 SuperQ 軟件具有多種易于使用的模塊,這些模塊能夠方便研究者和工程師進(jìn)行靈活的操作。 可以輕松切換配方和調(diào)整設(shè)備參數(shù)以適應(yīng)用戶偏好。

FALMO-2G

FALMO-2G 可輕松集成到任意實(shí)驗(yàn)室或晶片廠中:從簡單的人工托架裝載到全自動。 靈活的設(shè)計(jì)讓晶片廠經(jīng)理能夠選擇 FOUP、SMIF 或開放式裝入端口,配有一個(gè)或兩個(gè)裝入端口配置。 各種配置的 FALMO-2G 均受到符合 GEM300 的軟件支持。 FALMO-2G 的占地空間大大降低,而沒有損失靈活性、功能。 


馬爾文帕納科晶圓分析儀2830 ZT應(yīng)用

靈活操作

該儀器的 SuperQ 軟件具備多種易用使用的模塊,這些模塊能夠方便研究者和工程師進(jìn)行靈活的操作。 可以輕松切換配方和調(diào)整設(shè)備參數(shù)以適應(yīng)用戶偏好。


 

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