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熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)，激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，也可以獲得各元素的含量信息。近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金...

X射線熒光光譜儀應(yīng)用于水泥、鋼鐵、建材、石化、有色、硅酸鹽、煤炭、高嶺土、耐火材料、科研、環(huán)保等行業(yè)，是一種中型、經(jīng)濟(jì)、高性能的光譜儀。采用固定通道，減少測量時(shí)間；固定通道尤其適用于熒光產(chǎn)額較低的輕元素和微量元素的測定，以提高分析精度和靈敏度。X熒光光譜儀采用操作方便，用戶習(xí)慣的智能化軟件，提供全自動分析操作，實(shí)現(xiàn)快速定性、定量分析和半定量分析。X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)。能分析B(5)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體...

X熒光光譜儀由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進(jìn)行檢測。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。X熒光光譜儀的性能優(yōu)勢：1、分析速度快。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，10～300秒就可...

熔樣機(jī)具有獨(dú)立知識產(chǎn)權(quán)，可廣泛應(yīng)用于鋼鐵、冶金、化工、地質(zhì)、水泥、陶瓷、耐火材料等行業(yè)，采用觸摸屏顯示控制，界面友好，操作簡便，自動化程度高，具有升溫快、控溫，節(jié)能、運(yùn)行穩(wěn)定的特點(diǎn)，溫度更可高達(dá)1170℃,對難熔物質(zhì)也具有優(yōu)良的熔融效果，熔制樣片重現(xiàn)性好，各項(xiàng)指標(biāo)性能*，擁有良好的性價(jià)比。熔樣機(jī)是采用玻璃熔融法制備玻璃熔片，用AAS、ICP、X-熒光分析的樣品制備儀器，基本消除了礦物效應(yīng)和基體的增強(qiáng)吸收效應(yīng)，測量的精密度高、準(zhǔn)確度好;高溫熔融所采用的加熱方式有:燃?xì)饧訜?、電?..

Zeta電位儀可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過程的機(jī)理。通過測定粉體的Zeta電位，從pH－Zeta電位關(guān)系圖上求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識粉體表面電性的重要方法，在粉體表面處理中也是重要的手段。與國內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的*性。可廣泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè)，也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一。zeta電位儀的操作...