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Zeta電位儀可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過程的機(jī)理。通過測定粉體的Zeta電位，從pH－Zeta電位關(guān)系圖上求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識粉體表面電性的重要方法，在粉體表面處理中也是重要的手段。與國內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的*性?？蓮V泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè)，也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一。zeta電位儀的性能...

分析馬爾文流變儀的動態(tài)模式：在動態(tài)測試中，馬爾文流變儀可以控制振蕩頻率、振蕩幅度、測試溫度和測試時間。在典型的測試中，將其中二項固定，而系統(tǒng)地變化第三項。應(yīng)變掃描、頻率掃描、溫度掃描和時間掃描是基本的測試模式，掃描就是在所選擇的步驟中，連續(xù)地變化某個參數(shù)。動態(tài)單點(diǎn)測試就是在恒定頻率下施加恒定幅度的正弦形變。在測試中需要確定的參數(shù)是：頻率，應(yīng)變或應(yīng)力和實(shí)驗溫度。應(yīng)變控制型流變儀的動態(tài)頻率掃描模式是以一定的應(yīng)變幅度和溫度，施加不同頻率的正弦形變，在每個頻率下進(jìn)行一次測試。對于應(yīng)力...

X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進(jìn)行檢測。X熒光光譜儀是專門為工業(yè)用戶設(shè)計的、全集成化的X射線熒光光譜儀系統(tǒng)，小型化、高可靠性，它不需要任何外部輔助系統(tǒng)、如變壓器、液氮或冷卻水；主機(jī)采用220V交流電源，即可以安裝在實(shí)驗室內(nèi)使用，也可以安裝在質(zhì)量控制現(xiàn)場使用。儀器可以在任何環(huán)境中，每周七天，每天24小時連續(xù)運(yùn)行。X熒光光譜儀的性能特點(diǎn)：1、分析速度快。測定用時...

馬爾文粒度儀是通過顆粒的衍射或散射光的空間分布(散射譜)來分析顆粒大小的儀器，采用Furanhofer衍射及Mie散射理論，測試過程不受溫度變化、介質(zhì)黏度，試樣密度及表面狀態(tài)等諸多因素的影響，只要將待測樣品均勻地展現(xiàn)于激光束中，即可獲得準(zhǔn)確的測試結(jié)果。目前，我國粒度儀市場上的產(chǎn)品種類豐富，功能齊全，滿足眾多科研院所和實(shí)驗研究的需求。雖然馬爾文粒度儀的應(yīng)用已經(jīng)非常廣泛，但用戶在操作設(shè)備的過程中，尤其需要注意幾個細(xì)節(jié)問題。注意事項一：測量單元預(yù)熱。由于力度分析儀采用精密電子元件制...

X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進(jìn)行檢測。X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，可以測定元素含量。近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得多也廣泛。大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析...