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納米粒度電位儀在科學(xué)研究及工業(yè)應(yīng)用中以其精準(zhǔn)的測量能力和多方面的優(yōu)勢脫穎而出。以下是對其精準(zhǔn)測量能力及其優(yōu)勢的詳細(xì)解析：精準(zhǔn)的粒度測量：納米粒度電位儀能夠測量納米級顆粒的大小范圍，通常從幾納米到幾百納米不等。其高精度的測量能力，結(jié)合先進(jìn)的激光散射技術(shù)，確保了納米級顆粒大小的精確測定，滿足了各種納米材料尺寸測量的需求。高靈敏度的Zeta電位測量：除了粒度測量外，納米粒度電位儀還具有測量顆粒表面Zeta電位的功能。其Zeta電位測量范圍可達(dá)-600mV至+600mV，具有高靈敏度...

X射線熒光光譜儀是一種廣泛應(yīng)用于材料分析和質(zhì)量控制領(lǐng)域的儀器。它利用樣品受到X射線激發(fā)后所發(fā)射的熒光X射線的特征能量，來分析樣品的成分和元素含量。其工作原理基于X射線的特性和樣品的熒光發(fā)射。當(dāng)樣品受到高能X射線的激發(fā)時，樣品中的原子會吸收X射線的能量，并在吸收后重新排列電子結(jié)構(gòu)。在這個過程中，樣品會發(fā)射出特定能量的熒光X射線。通過測量和分析這些熒光X射線的能量和強(qiáng)度，可以確定樣品中的元素種類和含量。X射線熒光光譜儀的應(yīng)用范圍：1、環(huán)境監(jiān)測：在環(huán)境保護(hù)領(lǐng)域，XRF被廣泛用于監(jiān)測...

納米顆粒跟蹤分析儀是一種能夠?qū)崟r監(jiān)測納米顆粒動態(tài)行為的儀器。該技術(shù)被廣泛應(yīng)用于納米材料研究、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域。原理是利用激光束照射樣品，觀察樣品中納米顆粒的布朗運(yùn)動，并通過圖像處理技術(shù)對顆粒的位置進(jìn)行跟蹤。通過采集大量顆粒的位置信息，可以得到顆粒的大小、濃度、形狀等信息。使用納米顆粒跟蹤分析儀的操作流程通常包括樣品制備、儀器預(yù)熱、樣品注入、數(shù)據(jù)采集等步驟。樣品制備的要求較高，需要避免樣品中存在大顆粒和異物干擾。在數(shù)據(jù)采集后，可通過分析軟件對數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，如計(jì)算平均直徑...

本文摘要對于激光衍射測量技術(shù)來說，方法開發(fā)的優(yōu)化，對結(jié)果的可靠性至關(guān)重要。但是我們中有多少人能夠確保每個標(biāo)準(zhǔn)操作程序(SOP)都盡善盡美？Mastersizer3000+的SOPArchitect功能，能從各個維度為方法開發(fā)提供指導(dǎo)，降低偏離最佳方案的風(fēng)險。這使得標(biāo)準(zhǔn)方法的建立更加可靠、不易出錯，并大大減少監(jiān)管的時間。消除方法開發(fā)中的錯誤粒度檢測方法開發(fā)的過程中，面對一種新的樣品類型，無法快速確定各類參數(shù)的正確設(shè)置和測量方法的適用性，通過查閱資料尋求解決方案，又需要花費(fèi)大量的...

備受好評的云答疑活動告一段落，我們擇選了部分激光粒度儀Mastersizer3000云答疑活動中客戶提出的常見問題，并配以應(yīng)用專家的回答分段放送，以期幫助您優(yōu)化儀器使用和方法開發(fā)工作。問：石墨粒度檢測的表面活性劑選用哪一種好一些？答：大多數(shù)石墨用CA630（NP40）分散效果還不錯。但要注意表活不能加多，通常2-5%加3-4滴潤濕樣品即可。問：激光粒度儀激光強(qiáng)度在80%左右，但有時候會很低，出現(xiàn)不能對光是怎么回事呢？答：因?yàn)闆]有對光，所以才會激光強(qiáng)度低，需要檢查鏡片狀態(tài)，清潔...