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由于產(chǎn)生誤差的原因不同,能量色散型X熒光光譜儀各種誤差具有不同的性質(zhì),顯示出不同的基本特征。通常將誤差分為系統(tǒng)誤差、隨機(jī)誤差與過失誤差三類。(1)系統(tǒng)誤差由于在能量色散型X熒光光譜儀測定過程中某些固定的原因,造成測定結(jié)果經(jīng)常性偏高或偏低,出現(xiàn)比較恒定的正誤差或負(fù)誤差,這種誤差稱為系統(tǒng)誤差,或者稱為固定誤差、可測誤差,它是測定結(jié)果中的主要誤差來源。系統(tǒng)誤差的特點(diǎn)是,這種誤差在測定過程中按一定規(guī)律重復(fù)出現(xiàn),并具有一定的方向性,表現(xiàn)為測定結(jié)果經(jīng)常性偏高或偏低,增加測定次數(shù)并不能減少...

一、檢測元素范圍一般來說,波譜儀可探測的zui輕元素為鈹,能譜儀可檢測到硼元素,而實(shí)際上,波譜儀一般也只測到硼。對于原子序數(shù)小于10的超輕元素,過去多采用硬脂酸鉛晶體分光,對氮、氫等元素的探測效率較低,現(xiàn)在使用人工沉積的多層膜晶體,使探測效率提高很多。圖1顯示了用硬脂酸鉛晶體(STE)與W2C多層膜晶體(LDEB)對硼元素的測試結(jié)果。二者的實(shí)驗(yàn)條件相同,圖的縱坐標(biāo)為X2射線強(qiáng)度?？梢钥吹?用多層膜測得的強(qiáng)度比硬脂酸鉛提高了五倍多,峰背比改善更大,對其它超輕元素的測量都有類似的...

用EDXRF能量色散X射線熒光光譜儀測試樣品中的鎘鉛汞溴鉻時(shí),哪些元素之間存在干擾?該如何去除？1、應(yīng)明確理解，熒光分析存在干擾的元素有很多，每一種需要測試的元素都會(huì)受到其它某些元素的影響。如鉛分析過程中常出現(xiàn)砷干擾，汞分析過程中常出現(xiàn)鍺和錸干擾。2、常見干擾[經(jīng)驗(yàn)]Cd:Br/Pb/Sn/SbPb:Br/AsHg:Br/Pb/Fe/CaCr:ClBr:/Fe/Pb3、同時(shí)使用兩條以上的特征線進(jìn)行測分析。例如Pb，需要選取PbLa和PbLb這兩條譜線進(jìn)行測試和判斷。一般情況下...

一、能量色散X射線熒光光譜分析的優(yōu)勢能量色散X射線熒光光譜儀的主要優(yōu)勢可以概括為以下幾點(diǎn):⑴是一種真正意義上的無損檢測方法。被測樣品在測量前后，無論其化學(xué)成份、重量、形態(tài)等等都保持不變；⑵分析速度快，可以預(yù)篩選大量的樣品。一般情況下，檢測一個(gè)樣品中的諸元素只需3分鐘左右；⑶精度高，準(zhǔn)確度好。可以快速(半)定量的分析一個(gè)樣品中鉛、鎘、汞、鉻(不是六價(jià)鉻)及溴(不是PBB或PBDE)的含量水平；⑷自動(dòng)化程度高。二、能量色散X射線熒光光譜分析的劣勢及其改進(jìn)能量色散X射線熒光光譜分析...

一、x射線衍射儀試樣的選擇1、衍射儀試樣可以是金屬、非金屬的塊狀、片狀或各種粉末。試樣對晶粒大小、試樣厚度、擇優(yōu)取向、應(yīng)力狀態(tài)和試樣表面平整度等都有一定要求。2、衍射儀用試樣晶粒大小要適宜，在1μm-5μm左右*。粉末粒度也要在這個(gè)范圍內(nèi)，一般要求能通過325目的篩子為合適。二、x射線衍射儀實(shí)驗(yàn)參數(shù)選擇1、實(shí)驗(yàn)參數(shù)的選擇對于成功的實(shí)驗(yàn)來說是非常重要的。如果實(shí)驗(yàn)參數(shù)選擇不當(dāng)不僅不能獲得好的實(shí)驗(yàn)結(jié)果，甚至可能將實(shí)驗(yàn)引入歧途。2、實(shí)驗(yàn)參數(shù)是狹縫光欄、時(shí)間常數(shù)和掃描速度。3、防散射光...