對(duì)于含有非晶成分的樣品來(lái)說(shuō)，XRD測(cè)試的目的往往不僅在于分析出各結(jié)晶物相的相對(duì)含量（即常規(guī)物相定量方法），還希望能夠得出非晶相在樣品中的含量，即結(jié)晶度分析，一般來(lái)說(shuō)， “結(jié)晶度”主要指樣品中結(jié)晶部分的質(zhì)量占材料總質(zhì)量的百分比 ，即100% - 非晶物相百分含量。

值得注意的是與上述提到的結(jié)晶度含義不同，“結(jié)晶度”有時(shí)也用于量化或分級(jí)表征相關(guān)材料晶格周期性的理想程度，也就是結(jié)晶的完美程度、晶體結(jié)構(gòu)缺陷的類型與程度?；蛴?ldquo;有序度”來(lái)表述，這種情況下關(guān)心的不再是非晶物相的含量，而是結(jié)晶物相的結(jié)晶完美程度，此種意義上的“結(jié)晶度”可以用衍射峰半高寬等參數(shù)進(jìn)行表征。比如伊利石的結(jié)晶度有時(shí)用Weaver指數(shù)來(lái)表征，其值為伊利石1nm的衍射峰在1nm處的強(qiáng)度與1.5nm處的強(qiáng)度的比值，指數(shù)越大結(jié)晶度越好。

我們將通過(guò)兩次推文分別介紹基于全倒易空間X射線散射守恒原理或Rietveld全譜圖擬合的定量計(jì)算方法這兩個(gè)通用原理指導(dǎo)下，馬爾文帕納科Highscore(Plus)軟件四種結(jié)晶度分析方法，這里的結(jié)晶度含義均指前者，即結(jié)晶部分的質(zhì)量在材料中的百分比。用戶可根據(jù)標(biāo)樣情況、樣品特性、依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)等不同情況選擇適合自己的結(jié)晶度分析方法。

對(duì)一個(gè)給定的原子集合體,則不論其凝聚態(tài)如何(如非晶固態(tài)、晶態(tài)、不同取向態(tài)或不同晶相與非晶相的混合態(tài)等)，當(dāng)受到相同強(qiáng)度的X射線照射時(shí)，其相干散射在全倒易空間里總值保持守恒。換言之，樣品相干散射的總量?jī)H與受照射體積內(nèi)物質(zhì)的原子種類與總數(shù)有關(guān)，與物質(zhì)的結(jié)構(gòu)無(wú)關(guān)。

下文中的第一、二種方法依據(jù)原理為上述全倒易空間X射線散射守恒原理，由于此原理的前提是給定的原子結(jié)合體（即化學(xué)組成相同）與x射線照射強(qiáng)度相同，因此下文中前兩種結(jié)晶度分析方法的適用前提均為結(jié)晶物相與非晶物相的化學(xué)組成必須相同，且結(jié)晶相與非晶相的測(cè)試條件完全一致。

第三代Empyrean銳影多功能衍射平臺(tái)是第一款全自動(dòng)多功能衍射儀，無(wú)須任何人工干預(yù)即可進(jìn)行多種不同類型的測(cè)量。

? 多類型樣品和多應(yīng)用不間斷批次處理

? 樣品處理量至少提高30%

? 用戶培訓(xùn)時(shí)間減少30%

? 自動(dòng)優(yōu)化分辨率和強(qiáng)度

? 檢測(cè)雜質(zhì)或微量相，靈敏度提高40%或速度提高40%

Aeris將一步式外部樣品裝載于清晰簡(jiǎn)單的操作結(jié)合，采用標(biāo)準(zhǔn)電源工作，無(wú)須使用其他外設(shè)。同時(shí)它具有出色的精度、重現(xiàn)性和可靠性。可選擇的測(cè)量有：

?  Bragg-Brentano反射粉末衍射

?  透過(guò)箔片或毛細(xì)管的透射衍射

?  掠入射用于薄膜和鍍層分析

X'Pert3 MRD/XL適用于各類型薄膜的X射線分析，所涉及的典型材料有半導(dǎo)體、金屬合金、介電材料和化合物等。MRD/XL可以表征這些材料的如下屬性：層厚、晶相和合金成分、應(yīng)力、結(jié)晶度、密度和界面形態(tài)等等。