工業(yè)X射線衍射儀適合工業(yè)環(huán)境中的游離硅及石棉的定性/定量分析。X射線衍射術(shù)是一種應(yīng)用于材料分析的高科技無(wú)損檢測(cè)方法，可以采用這種方法進(jìn)行分析研究的材料范圍非常廣泛，包括流體、金屬、礦物、聚合物、催化劑、塑料、藥物、薄膜鍍層、陶瓷、太陽(yáng)能電池和半導(dǎo)體等。X射線衍射方法的應(yīng)用遍及工業(yè)和科研院所，現(xiàn)已成為一種*的材料研究表征和質(zhì)量控制手段。具體應(yīng)用范圍包括定性和定量相分析、晶體分析、結(jié)構(gòu)解析、織構(gòu)和殘余應(yīng)力分析、受控樣品環(huán)境、微區(qū)衍射、納米材料、實(shí)驗(yàn)和過(guò)程的自動(dòng)控制以及高處理量多形體篩選。
　　工業(yè)X射線衍射儀的晶體分析：
　　勞動(dòng)者在工作中的暴露而對(duì)其造成健康損害的92種物質(zhì)，規(guī)定必須實(shí)施其作業(yè)環(huán)境的測(cè)定。其中，粉塵中的游離硅以及石棉的定性、定量分析可以使用工業(yè)X射線衍射儀。相關(guān)法規(guī)的修訂對(duì)有害物質(zhì)的管理濃度、分析程序進(jìn)行了修改。工業(yè)X射線衍射儀在對(duì)于工業(yè)環(huán)境測(cè)定中的游離硅、石棉進(jìn)行定性分析是必要的，在這些微量樣品的定量分析中也是*的。
　　游離硅的定性、定量分析；
　　工業(yè)環(huán)境測(cè)定中礦物性粉塵的管理濃度為按以下公式計(jì)算出的量。
　　E=3.0/（0.59Q+1）。
　　E：管理濃度mg/m3 Q：游離硅含有率（%）。
　　所以知道粉塵中游離硅酸的含有率是很重要的。游離硅種類(lèi)有石英、微晶物、鱗石英等。首先規(guī)定使用工業(yè)X射線衍射儀掌握含有什么種類(lèi)的游離硅（定性分析），根據(jù)其定性結(jié)果，以使用磷酸法或工業(yè)X射線衍射儀的基底標(biāo)準(zhǔn)吸收校正法進(jìn)行定量。目標(biāo)物質(zhì)的衍射X射線強(qiáng)度因受基底物質(zhì)吸收的影響，必須進(jìn)行校正。為進(jìn)行校正必須求得基底物質(zhì)的X射線吸收系數(shù)。可在一次的測(cè)定中將其完成的方法就是基底標(biāo)準(zhǔn)吸收校正法。采用基底吸收校正法的工業(yè)X射線衍射儀定量分析軟件。