xrf分析儀曲線(xiàn)漂移的原因分析：
　　1.要把漂移的原因搞清楚，是xrf分析儀（參數(shù)）原因還是環(huán)境（氣、電、溫度等）；
　　熔融法做類(lèi)標(biāo)，風(fēng)險(xiǎn)稍大，熔融法不象直讀光譜，標(biāo)樣穩(wěn)定，且基體大多情況不一致。
　　2.雖說(shuō)對(duì)于熔融法,類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化沒(méi)有什么理論根據(jù),但有時(shí)確實(shí)起到很好的效果,并不是不可用,但要確認(rèn)儀器本身正常且穩(wěn)定。
　　對(duì)于校正xrf分析儀漂移的試樣,要看強(qiáng)度值有多高,如果單點(diǎn)校正的強(qiáng)度值過(guò)低,可能會(huì)出現(xiàn)較大的問(wèn)題,單點(diǎn)漂移校正的強(qiáng)度接近曲線(xiàn)的上端強(qiáng)度,相對(duì)誤差會(huì)小一些,用兩點(diǎn)校正儀器漂移。
　　曲線(xiàn)有較大漂移時(shí)(儀器更換器件或其它因素引起,但儀器正常且穩(wěn)定),為了減少重做曲線(xiàn)的工作量,可以采用重校正來(lái)對(duì)原有曲線(xiàn)進(jìn)行重校,效果也不錯(cuò),選擇原曲線(xiàn)上兩到四點(diǎn),重熔片進(jìn)行校正。
　　有時(shí)不同批次的熔劑,也會(huì)對(duì)分析中的某些元素產(chǎn)生影響,與熔劑中雜質(zhì)元素有關(guān)。
　　熔融樣品做標(biāo)樣是可以的,但是要注意吸水問(wèn)題,樣品在空氣中的氧化問(wèn)題等。