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用于晶體取向測(cè)量的SDCOM小型衍射儀 用于單晶（晶錠和晶圓）的材料研究、生產(chǎn)和質(zhì)量控制的臺(tái)式XRD設(shè)備。 Si | SiC | 金剛石 | AIN | GaAs | 石英 | LiNbO? | bbo | GaN 和其他一百多種材料。

Wafer XRD Panalytical X射線技術(shù) 用于全自動(dòng)晶圓揀選、生產(chǎn)和質(zhì)量控制。

Omega/Theta Panalytical X射線技術(shù) 最高精度，最大靈活性

XRD 系列 晶圓和鑄錠快速準(zhǔn)確的晶向定位 從全自動(dòng)的在線分析到晶圓材料的快速質(zhì)量檢查,我們的晶向定位解決方案在設(shè)計(jì)時(shí)考慮到了晶棒、鑄錠、切片和晶圓的全部應(yīng)用場(chǎng)景。此系列產(chǎn)品利用XRD分析技術(shù)在晶圓生產(chǎn)的全部流程中，提供簡(jiǎn)單、快速、高精度的晶體定向測(cè)量，大大提高產(chǎn)品良率。

馬爾文帕納科工業(yè)X射線衍射儀符合X 射線和運(yùn)動(dòng)安全規(guī)范，且具有環(huán)保和可靠性能，其可靠性的增強(qiáng)及性能的改進(jìn)提高了分析能力，提供一體化解決方案來(lái)滿足不同需求和應(yīng)用。