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本文摘要PLSR偏最小二乘回歸（PartialLeastSquaresRegression）是一種常用于處理多重共線(xiàn)性數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)建模方法。用于XRD定量分析中，相較于其他幾種XRD定量分析方法如標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)法（Calibration）和Rietveld擬合法，PLSR法具有其獨(dú)特的優(yōu)點(diǎn)和應(yīng)用場(chǎng)景。本文將介紹PLSR用于藥物有效成分（API）的定量分析。01丨XRD定量方法簡(jiǎn)介PLSR法相較與標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)法，具有能夠分析全譜，應(yīng)對(duì)復(fù)雜混合物譜圖以及能夠分析無(wú)定形相如粉煤灰等優(yōu)勢(shì)。同時(shí)，...

激光噴霧粒度儀是一種用于測(cè)量和分析噴霧、氣霧劑、粉霧劑等微小顆粒尺寸及其分布的精密儀器，在多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用?；诩す馍⑸湓韺?shí)現(xiàn)顆粒動(dòng)態(tài)分析。當(dāng)激光束通過(guò)噴霧顆粒時(shí)，顆粒對(duì)入射光產(chǎn)生散射作用，散射光強(qiáng)度及角度分布與顆粒粒徑直接相關(guān)。大顆粒散射光角度較小且信號(hào)強(qiáng)，小顆粒散射光角度較大且信號(hào)弱。通過(guò)測(cè)量散射光的角度分布與強(qiáng)度，結(jié)合Mie理論或Fraunhofer衍射模型（適用于5μm顆粒），反算出顆粒粒徑分布。例如，夫瑯和費(fèi)衍射模型通過(guò)平行光路設(shè)計(jì)優(yōu)化大顆粒測(cè)量精度。激光噴...

上文中我們介紹了一些針對(duì)落地式XRD的用戶(hù)日常儀器檢查維護(hù)技巧，主要集中于儀器清潔和外設(shè)日檢，本文將向大家繼續(xù)介紹XRD儀器其他部位的日檢及周檢技巧。日檢4：檢查光管打火XRD光管打火不僅會(huì)直接損害光管硬件，還可能通過(guò)影響X射線(xiàn)穩(wěn)定性和儀器精度，導(dǎo)致分析結(jié)果偏差。日常使用中需嚴(yán)格遵循操作規(guī)程，定期維護(hù)真空系統(tǒng)和冷卻系統(tǒng)，并每日在軟件中檢查光管打火情況，以降低頻繁打火的風(fēng)險(xiǎn)并延長(zhǎng)儀器壽命。在DataCollector中點(diǎn)擊Systemmaintenance，找到Tubecoun...

粉末衍射儀是一種基于X射線(xiàn)衍射技術(shù)的分析儀器，主要用于晶體物質(zhì)的定性和定量分析以及物相結(jié)構(gòu)研究。其工作原理是當(dāng)一束X射線(xiàn)照射到晶體樣品上時(shí)，由于晶體內(nèi)部原子周期性排列，X射線(xiàn)會(huì)發(fā)生衍射，不同晶面間距的原子層會(huì)對(duì)X射線(xiàn)產(chǎn)生特定角度的衍射增強(qiáng)，形成衍射圖譜。通過(guò)分析衍射圖譜，可以獲取晶體的晶格參數(shù)、結(jié)晶度等信息。粉末衍射儀的核心部件包括X射線(xiàn)光源、測(cè)角儀和探測(cè)器?，F(xiàn)代粉末衍射儀技術(shù)先進(jìn)，測(cè)角儀角度精度可達(dá)0.0001°，測(cè)角半徑最大超過(guò)280mm，能夠精確測(cè)量衍射峰的位置。探測(cè)器...

納米粒度電位儀是一種用于測(cè)量納米及亞微米級(jí)顆粒粒徑、Zeta電位等參數(shù)的分析儀器，在化學(xué)、材料科學(xué)、生物醫(yī)藥等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。該儀器主要基于動(dòng)態(tài)光散射（DLS）、電泳光散射（ELS）和靜態(tài)光散射（SLS）技術(shù)工作。動(dòng)態(tài)光散射通過(guò)檢測(cè)顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度計(jì)算粒徑分布；電泳光散射測(cè)量顆粒在外加電場(chǎng)中的遷移率，轉(zhuǎn)化為Zeta電位值；靜態(tài)光散射則利用散射光強(qiáng)直接測(cè)定高分子物質(zhì)的絕對(duì)分子量及第二維利系數(shù)。其粒徑檢測(cè)范圍通常覆蓋0.3nm至10μm，支持低至12μL的微量樣品檢測(cè)，并具備自動(dòng)化...