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一、XRF測試條件1、厚度a.試料厚度zui少3mm以上才行；b.不足時(shí)用同樣的Sample層疊后測試。2、長度=采取Sample時(shí)，試料長度zui少3mm以上才行。3、試料面=試料盡可能平面部位里采取。4、符合材質(zhì)=單一材質(zhì)(homogeneousmaterial)狀態(tài)下分離或,從供給社接到供給實(shí)施XRF評(píng)價(jià)。5、粉碎/液晶試料=單一材質(zhì)狀態(tài)試料非常小或PowderType或液狀試料情況下,用別度試料容器MylarFilm堵住一邊,容器內(nèi)將試料填滿后X線不能通過實(shí)施分析=引...

一、能量色散型X熒光光譜儀材料大小尺寸要求：1、金屬類別測試物品厚度在0.1mm以上，長寬大于等于8mm即大于等于X光管zui大面積。2、塑料及其它類別測試物品厚度在3mm以上，長寬大于等于8mm即大于等于X光管zui大面積。3、單擊“設(shè)置ROHS標(biāo)準(zhǔn)”按鈕，可根據(jù)正圓有害物質(zhì)（HSF）技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置元素*。二、能量色散型X熒光光譜儀材料拆解原則1、為了測試材料中有害物質(zhì)或元素的濃度，達(dá)到有效控制有害物質(zhì)或元素在材料中使用的目的，應(yīng)該在測試前將材料(有毒有害物質(zhì)或元素檢測對象)...

一、X熒光光譜儀的原理當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài),激發(fā)態(tài)原子壽命約為(10)-12-(10)-14s,然后自發(fā)地由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài).這個(gè)過程稱為馳過程.馳豫過程既可以是非輻射躍遷,也可以是輻射躍遷.當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),所釋放的能量隨即在原子內(nèi)部被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子,此稱為俄歇效應(yīng),亦稱次級(jí)光電效應(yīng)或無輻射效應(yīng),所逐出的次級(jí)光電子稱為俄歇電子。它...

1、方法的特點(diǎn)粉末衍射儀法是用檢測器逐個(gè)測量每一個(gè)衍射的位置和強(qiáng)度，而照相方法則是用底片同時(shí)記錄可攝角度范圍內(nèi)的全部衍射線。所以，若需檢查衍射環(huán)的外貌特點(diǎn)（是否不連續(xù)，樣品中是否存在擇優(yōu)取向等）時(shí)，則用照相法較為方便。2、對樣品的要求樣品的zui少用量兩種方法差別很大。要得到一張好的粉末圖，衍射儀所需的粉末的體積至少為0.lml，如果對線條的強(qiáng)度數(shù)據(jù)要求不高，則有0.02ml體積的粉末也足使用，這和聚焦照相機(jī)所需的樣品起碼用量差不多。D-S．照相法樣品用量很少，用0.0015...

性能無疑是評(píng)估光譜儀非常重要的指標(biāo)。性能優(yōu)異的進(jìn)口X射線熒光光譜儀做篩選檢測能準(zhǔn)確無誤地排查合格和不合格，并將不確定的灰色部分壓縮到zui?。挥械墓庾V儀鉛砷不分、鎘的特征譜線與X光管銠電極的特征譜線重疊等。經(jīng)常誤判；有的光譜儀檢測鎘的靈敏度不夠高，不能準(zhǔn)確判定鎘；大部分光譜儀的檢測穩(wěn)定性受到X光管老化、環(huán)境溫度、電源波動(dòng)等影響，使數(shù)值不準(zhǔn)。由于性能不足，可能發(fā)生錯(cuò)判、誤判、無法判定等事件頻發(fā)，不確定的灰色部分比例大增。其后果必然是成本顯著提高、風(fēng)險(xiǎn)增加。有的光譜儀X射線漏泄嚴(yán)...